Учет симметрий и задание открытых границ в электротехнических AC/DC расчетах

15 июля 2020 г.14:00 - 15:00 MSK

Вернуться в календарь мероприятий

Функционал модуля AC/DC пакета COMSOL Multiphysics® позволяет выполнять исследования по следующим направлениям: электростатика, электрические токи и поля, магнитные поля, индукционные эффекты и их многочисленные связи как между собой, так и с другими физическими эффектами.

В данном практическом вебинаре мы разберем два универсальных аспекта моделирования самых разных электротехнических AC/DC систем: упрощение модели за счет использования симметрии, требующее при этом указания корректных граничных условий в плоскости симметрии, и эффективное описание открытых границ, не искажающих расчетные поля и характеристики. В качестве демонстрационного примера будет использована магнитная модель многовитковой катушки в AC-режиме работы.

Данный вебинар будет полезен пользователям модулей электротехнической линейки пакета и позволит повысить эффективность, производительность и точность расчетов.

Регистрация на Учет симметрий и задание открытых границ в электротехнических AC/DC расчетах

15 июля 2020 г. 14:00 - 15:00 MSK
Войдите или зарегистрируйтесь для авторизации. Для участия в Учет симметрий и задание открытых границ в электротехнических AC/DC расчетах требуется учетная запись COMSOL Access.
Забыли пароль?
Вы успешно вошли в систему. Эта страница обновится, после чего ваша регистрация на мероприятие будет завершена.
Вы успешно создали новую учетную запись COMSOL Access. Эта страница обновится, после чего ваша регистрация на мероприятие будет завершена.

Подробности о вебинаре

Это мероприятие проходит в формате онлайн.

Дата и время

15 июля 2020 г. | 14:00 MSK (UTC+03:00)

Докладчик

Сергей Янкин
COMSOL

Сергей Янкин работает инженером по приложениям в российском офисе компании COMSOL с 2016 года. В 2015 получил степень к. ф.-м. н. по специальности "Радиофизика" в СГУ им. Н.Г. Чернышевского. Области интересов включают моделирование радиофизических, акустоэлектронных и фононных процессов и устройств.